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基于威布尔分布的机械产品可靠性评估研究开题报告

 2020-02-18 08:02  

1. 研究目的与意义

可靠性经历了20世纪50年代的起步阶段,70年代的成熟阶段,90年代进入了向综合化、智能化、自动化发展的阶段,到21世纪已发展到面向全寿命、全过程、全特性的综合集成阶段,最终发展成为一门综合性的可靠性工程技术学科。

在这些发展中,产品质量得到迅速提高,可靠性理论和实践得到丰富和完善[2]。

可靠性数据分析的研究对象也由简单到复杂,数据分析方法从单元产品可靠性数据分析向系统可靠性数据分析发展,可以说,可靠性数据分析在可靠性工程实际需求下,理论和方法得到了很大的发展,形成了完整、系统的理论和方法体系。

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2. 研究内容和预期目标

结合极大似然方法,探讨具有广泛适应性的威布尔分布在民航发动机寿命分析中的应用。

针对民航发动机可靠性数据的具体实例,本文分子样有失效和子样无失效两个部分进行讨论。

(1)对于威布尔分布的发动机子样有失效的情形,构建极大似然函数;根据极大似然准则,推导发动机特征寿命和形状参数的极大似然点估计迭代计算公式;(2)对于威布尔分布的发动机子样无失效的情形,推导出(1-α)置信水平下可靠度r(t)和可靠寿命t(r)的最优单侧置信下限计算公式[4];(3)结合以上方法,分析民航发动机可靠性数据,得到民航发动机的可靠寿命和指标[7]。

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3. 国内外研究现状

威布尔分布是由瑞典物理学家waloddi weibull于1939年引进,是可靠性分析及寿命检验的理论基础。

lundberg和palmgren首次提出了二参数威布尔分布理论,并将次成功应用于轴承寿命预测研究中,最终形成后来的经典轴承寿命理论。

由此,威布尔分布在各个领域总的应用纷纷展开,主要应用领域有医学、电子、铁路、地震、水利、机械设计等[5]。

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4. 计划与进度安排

1.2022年12月:在前期搜集并阅读文献资料的基础上写出开题报告; 2.2022年1月:广泛搜集与选题有关的文献资料,仔细研读,了解国内外与选题相关研究现状、成果、观点,为撰写论文找准切入点,理清思路并写出论文提纲; 3.2022年23月:完成初稿,重点解决写作中遇到的问题和难题; 4.2022年4月20日前:修改论文,提交外文文献翻译资料。

配合老师进行论文写作的中期检查; 5.2022年4月20日--5月10日:反复修改定稿,准备答辩。

5. 参考文献

[1]戴树森,费鹤良.可靠性试验及其统计分析[M].中国北京:国防工业出版社,1983 [2]贺国芳,何国伟可靠性数据的收集与分析.北京:国防工业出版社,1995. [3]赵宇,杨军.可靠性数据分析教程.北京:北京航空航天出版社,2009 [4]K.Y.Chen.Forecasting Systems Reliability Based on Support Vector Regression with GeneticAlgorithms. Reliability Engineering and System Safety,2007,92:423-432 [5]蒋仁言.威布尔模型族特性、参数估计和应用[M].北京:科学出版社,1998. [6]陈文华.航天电连接器可靠性试验和分析的研究[D].杭州:浙江大学,1997. [7]Lawless J. E.寿命数据中的统计模型与方法[M].茹诗松,等译,北京:中国统计出版社,1998. [8]吴清太.定数截尾Weibull分布下恒定应力加速寿命试验统计分析,电子产品可靠性与环境试验,1997. [9]茆诗松,王玲玲.加速寿命试验.科学出版社,1997:151-153 [10]Saleh J H,Marais K.Highlights from the early (and pre-)history of reliability engineering.Reliability Engineering and System Safety,2006, 91(2):249-256 [11]王炳兴,王玲玲.加速寿命试验参数估计的改进,电子产品可靠性与环境试验,1996,3:1-4 [12]茆诗松.恒定应力加速寿命试验的贝叶斯方法,应用概率统计,1987,3(3): 264-269 [13]Pham,Hoang.On recent generalizations of the Weibull distribution[J].IEEE Transactions onReliability.September 2007.( 9 ): 454-458 [14]Chao D. H. Ma J. Li X. Y. Research on the reliability of SLD through accelerated life testing[C]. [15]W.Yurkowsky, R. E. Scllafter, J. M. Finkelsteill. Accelerated testing technolog [R]. Technical Report NO.RADC-TR-67-420, Rome Air Development Center, 1967. [16]W.Nelson.Accelerated Testing-Statistical Models, Test Plans and Data Analysis[M]. New York: Wiley,1990. [17]Trevisanello,Lorenzo;Meneghini,Matteo;Mura,Giovanna;Vanzi,Massimo;Pavesi,Maura;Meneghesso,Gaudenzio;Zanoni,Enrico.Accelerated life test of high brightness light emitting diodesIEEE Transactions on Device and Materials Reliability,2008. [18]Levada,Simone;Meneghini,Matteo;Meneghesso,Gaudenzio;Zanoni,Enrico. Analysis of DC current accelerated life tests of GaN LEDs using a weibull-based statistical modelIEEE Transactions on Device and Materials Reliability,2005. [19] Chao D.H;Ma J;Li X.Y. Research on the reliability of SLD through accelerated life testingICRMS 2009 8~ (th) International conference on reliability,maintainability and safety, 2009. [20]Wang,Zheng.Time-dependent reliability model and failure rate analysis of mechanicalcomponents[J].Journal of Northeastern University 2007(11):155-159

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