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锂电池电压检测芯片的专用测试电路设计开题报告

   

1. 研究目的与意义

近年来,国内ic产业发展迅猛,国家在集成电路(ic)产业也大力扶持,近十年以来国内半导体企业在产品研发、技术创新方面取得了长足发展,半导体行业研发投入持续增长,半导体的高速发展必然会推动其测试技术的发展,从分立器件到简单的模拟芯片,从低频模拟器件到混合信号芯片,再到rf,到soc器件,这每一次的芯片发展都给测试带来了巨大的挑战,测试的挑战不仅仅在于可以满足参数的测试,更重要的在于能否精准的,高效的,低成本的把测试解决。测试环节的成本是决定什么参数需要被测试以及以何种方式满足这些测试要求的唯一的最重要的因素,测试成本在器件总的制造成本和市场销售中占了很大的比重。例如同一款芯片只是进行简单的基本参数测试,没有其他方面的测试,那么在市场上的售价可能就是几毛钱而已,但是运用到高层次,如军工产品,则会在测试过程中执行更加严格的标准,测试成本和售价也会随之增加。因此,在芯片设计的初期就应该认真分析,确认测试需求,确认芯片测试的品质要求和故障覆盖率以及目标缺陷等级,对测试成本有一个指导性的要求,并选择合适的测试工厂和测试平台。

芯片设计中的测试分为以下几类:

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2. 研究内容与预期目标

本课题主要通过运用模拟电路知识和编程知识来进行研究,研究内容有以下几个方面

(1)对芯片原理的研究,以及前期的一些知识的储备;

(2)对测试方案的研究,并与设计师讨论测试方案的可行性;

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3. 研究方法与步骤

首先,对拿到的芯片进行电路分析,了解其工作原理,通常将芯片各个回路分开,分析每个回路作用,分析后有基本思路;

第二步,按照测试要求,确定可行的测试方案,与设计师讨论测试方案的可行性,对无法进行的测试要求与设计师讨论解决;

第三步,测试方案确定好后设计测试电路,测试电路需要多个电压,而电路只有5v电压,此时需要设计一个升压电路,这边使用boost来进行升压,其次电路中需要电压变换,根据要求设计了由mos管控制输出电压的电路,然后还需要设计控制电路等;

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4. 参考文献

[1] 郭继昌, 李香萍, 张宏涛. 基于单片机控制的恒流源的设计[j]. 电子测量与仪器学报, 2000, 014(004):59-63.

[2] 潘方. rs 232串口通信在pc机与单片机通信中的应用[j]. 现代电子技术, 2012(13):77-79.

[3] 毕查德#12539;拉扎维. 模拟cmos集成电路设计[m]. 西安交通大学出版社, 2003.

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5. 工作计划

(1)2022年3月15日-2022年3月20日:分析课题、查找相关理论知识和参考文献资料

(2)2022年3月21日-2022年3月31日:确定测试方案、完成英文翻译、撰写开题报告

(3)2022年4月1日-2022年4月19日:完善测试方案,完成电路设计

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