登录

  • 登录
  • 忘记密码?点击找回

注册

  • 获取手机验证码 60
  • 注册

找回密码

  • 获取手机验证码60
  • 找回
毕业论文网 > 毕业论文 > 理工学类 > 自动化 > 正文

电子元件伏安特性测试系统的设计毕业论文

 2022-06-01 10:06  

论文总字数:14689字

摘 要

本文首先对电子元件伏安特性测试的研究目的、意义、研究状况及发展进行了介绍,并简要介绍了课题的主要内容和方案;对于基于虚拟仪器的晶体管测试的设计,先对虚拟仪器技术、LabVIEW 8.5图形化编程软件和数据采集设计进行了简要的介绍,通过课题相关的一些知识,引出了二极管和三极管伏安特性曲线测量设计的原理和算法,并通过电路图,更清晰地说明了测量原理;最后介绍了实验硬件电路的搭建和测量操作的流程,并对论文做了一定的总结。

论文的主要内容是设计了基于虚拟仪器技术和通用数据采集卡完成晶体管特性测试实验方案,传统的测量方法需要使用多种测量仪器,势必会影响实验效果和造成一定的误差。虚拟仪器技术的应用将计算机硬件资源与仪器硬件有机的融合,通过分别对型号为IN4148的二极管和型号为2SC9014的三极管进行实际测量,证明其能够满足测试实验要求。本设计主要运用电压扫描法和Monte-Carlo法获取伏安特性曲线。

关键词:虚拟仪器技术 晶体管特性 LabVIEW 数据采集

The design of test ofvolt-ampere characteristics of electronic components

ABSTRACT

Firstly,the research purpose,significance,research status and development about test of volt-ampere characteristics of electronic components were introduced in this paper, and it briefly describes the main contents and program issues;For the design of the transistor-based virtual instrument test,firstly about virtual instrument technology, LabVIEW 8.5 graphical programming software and data acquisition design it make a brief introduction,through some knowledge the issues related,which writes the principle and algorithm of the design of diode and triode current characteristic measurement,and a circuit diagram more clearly illustrates the measurement principle; Finally, the paper introduces the process of building of hardware circuit and measuring operation, and it made a certain conclusion.

The main content of the paper is designing the experimental program based on virtual instrument technology and universal data acquisition card to complete the test of the transistor characteristic.The traditional measurement methods require multiple measuring instruments, which is bound to affect the experimental results and causes some errors.The application of Virtual Instrument Technology make computer hardware resources and instrumental hardware an organic integration.By the respectively actual measurement of model IN4148 diodes and model 2SC9014 transistors,it prove that it meets the requirements of test experiments.The design mainly applys voltage scanning method and Monte-Carlo method.

Key words: Virtual Instrument Technology;Transistor characteristics;LabVIEW;Data Collection

目录

摘要 2

ABSTRACT 3

第一章 绪论 5

1.1课题背景 5

1.1.1课题的研究目的及意义 5

1.1.2课题的研究与发展 5

1.2 课题的主要内容及方案 6

第二章 基于虚拟技术的晶体管特性测试简介 8

2.1 虚拟仪器概述 8

2.2 LabVIEW简介 9

第三章 硬件平台构建及测量流程 12

3.1硬件平台的搭建 12

3.1.1数据采集卡的介绍 12

3.1.2系统硬件总体结构平台 13

3.1.3电子元件介绍 13

3.1.4 二极管伏安特性测量的硬件电路 14

3.1.4三极管伏安特性测量的硬件电路 14

3.2 测量流程 15

第四章 电子元件伏安特性测试的设计 17

4.1 基于虚拟仪器的晶体管测量系统的功能 17

4.2电子元件伏安特性的测量设计 17

4.2.1 二极管正向伏安特性测量的设计 17

4.2.2三极管伏安特性测量的设计 23

第五章 总结和展望 32

5.1 总结 32

5.2 展望 32

参考文献 33

致谢 34

第一章 绪论

1.1课题背景

1.1.1课题的研究目的及意义

二极管和三极管是教学中比较常见的电子元件,对于它们的伏安特性测量,使用传统的测量方法需要多种测量仪,操作复杂,精确度不高。随着虚拟仪器技术的快速发展,为了提高电子元件伏安特性测量的简易性,采用了虚拟仪器技术实现了二极管和三极管伏安特性量,解决了测量的发生信号同步生成、电压数据同步采集、特性曲线直观显示等问题。

本文通过采用虚拟仪器技术设计二极管和三极管伏安特性测量,经过实验测试证明整个系统性价比高、通用性强、数据存储方便、性能稳定可靠,完全可以

请支付后下载全文,论文总字数:14689字

您需要先支付 80元 才能查看全部内容!立即支付

企业微信

Copyright © 2010-2022 毕业论文网 站点地图