基于B位缺陷的高性能质子导体电解质材料的研究开题报告
2020-04-28 08:04
1. 研究目的与意义(文献综述包含参考文献)
文 献 综 述 1.1 前言 时至今日,随着人口数量的剧烈增长以及人们物质生活水平的不断提高,世界对可支配能源的需求量也不断增加[1]。
自工业革命过去的200多年间,社会主要依赖于化石资源的开发利用,以煤、石油和天然气为代表的化石类能源依然在全世界的能源消耗中占据非常大的比重。
然而,化石类能源目前探知的存储有限,面临着消耗殆尽的不利局面。
2. 研究的基本内容、问题解决措施及方案
本课题要研究或解决的问题 1.使用edta-ca溶胶-凝胶法制备bazr0.1ce0.7y0.1yb0.1o3-δ(bcfzyb)以及不同b位缺陷程度bzcyyb粉体,缺陷程度以5%为梯度,即三个样品ba(zr0.1ce0.7y0.1yb0.1)o3-δ(样品标记为bzcyyb)、ba(zr0.1ce0.7y0.1yb0.1)0.95o3-δ(样品标记为bzcyyb-0.95)、ba(zr0.1ce0.7y0.1yb0.1)0.90o3-δ(样品标记为bzcyyb-0.90),同时用高温固相法制备baco0.4fe0.4zr0.1 y0.1o3-δ(bcfzy)粉体,其中前三者是用于对比试验的不同缺陷量质子导体粉体,最后者则是本实验需要用的阴极材料; 2、使用干压法制备电解质片,使用球磨制备阴极浆料进行喷涂。
考察不同b位缺陷程度在相同阴极材料情况下的电化学性能; 3、研究不同b位缺陷程度对bzcyyb电解质材料结构、氧传递、氧扩散、电导率等物理化学性质的影响,分析最佳的不同b位缺陷程度; 4、测试不同b位缺陷程度bzcyyb对称电池阻抗,分析高氧还原活性的机理; 5、在得到最佳b位缺陷程度的bzcyyb后直接应用在单电池中,考察对单电池性能的影响,以及对电池稳定性的影响; 6、电池测试后观察电极的环境扫描显微镜图 (fesem),判断电极微观形貌变化。
拟采用的研究手段(途径) x射线衍射(xrd) 运用x射线衍射法对材料的晶相结构进行研究。
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