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放电频谱测量实验系统构建开题报告

 2021-03-21 12:03  

1. 研究目的与意义(文献综述)

随着现在社会和经济的发展,电力设备飞速朝着超高压的方向发展。至2002年至今,电力已经成为现代社会的主要能源。然而,伴随着电力能源发展的同时,局部放电现象的出现也成为一个令人头疼的问题。局部放电主要是变压器和互感器以及其他一些高压电气设备在高电压的设备下使其内部绝缘发生的放电。局部放电对绝缘的破坏作用是一个缓慢的过程,它是从局部区域开始的,因此,会降低绝缘寿命,影响设备安全运行,对高压设备是一种隐患。所以,对高压产品合理的结构设计以及高压等易放电结构的检测显得格外重要。然而,在计算机技术和信息处理技术尚未得到应用之前,人们普遍利用预防性试验来对电气设备的绝缘参数进行测量,我国电力行业一般按事先制定的检修周期进行停机检修,也称计划维修。但是从长期的过程来看,计划维修虽然起到了很大作用,但是每次检修都要停电,测试结果不一定能反应真实的工作情况,而且测试周期长,有效数据少,局限性很大。于是,对电力设备在工作状态下进行连续和实时监测和判断就显得尤为重要。通过对电力设部局部放电的频谱连续监测数据的有效分析,便能预见事故发生的征兆,避免恶性事故的发生。(意义)

上面讲到合理的放电结构和高压局部放电的频谱检测的重要性,因此,本论文着重研究放电结构系统的构建和高压等易放电结构和环境条件下的放电伴随电磁辐射的频谱测量问题。希望通过对构建出来的合理的放电结构模型的研究,当然重点是对局部放电量的标定,从而提高局部放电在线检测的灵敏度,从而在现实生活中能够运用高压设备的局部放电的预防和维修问题当中。更好的维护电力设备。(目的)

通过以上论述,我们便知道,局部放电的检测技术显得极其重要。近年来,国内外在人工电子系统局部放电uhf检测法的应用上,有了比较深入的研究,人工电子系统特高频局部放电自动识别系统和测量系统纷纷提出在国外,人工电子系统局部放电特高频检测方法究面,比较有影响的是英国的juddmd,从传感器的设计!安装,到局部放电特高频检测系统的设计,以及信号分析处理软件的开发,他都有很深的研究在国内,比较早开始将特高频检测方法应用在人工电子系统放电的检测中的是西安交通大学的王国利等人,他们也进行了传感器的设计和建立了有自己风格的超高频检测系统。

特高频检测方法具有检测频率高!信息量大!抗干扰性能好等优点,近年来已在一些电力设备中已经得到了应用但是从国内的应用情况来看,也还存在一些需要解决的问题,如特殊的抗干扰问题和如何进行放电量的标定等。(国内外研究现状)

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2. 研究的基本内容与方案

(1) 基本内容

1.放电结构系统的构建。

2.设计局部高压放电的频谱连续实时测量方案。

(2) 目标

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3. 研究计划与安排

第1-3周:查阅相关文献资料,明确研究内容,确定方案,完成开题工作;

第4-9周:研究选择易放电结构和环境,设计放电结构,构建装置,选择现有控制仪器和测量仪器构建测量系统;

第10-13周:开展测试,得到初步测试结果;

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4. 参考文献(12篇以上)

[1].m. masugi; k. murakawa; n. kuwabara; f. amemiya. measurement and analysis of electromagnetic pulses caused by electrostatic dischrage[c], international symposium on electromagnetic compatibility, 1992, pages: 361 - 365.

[2].masayuki hikita; junichiro tokiyoshi; motoo tsuchie; masahiro kozako; takashi suzuki; akinori kanetani; takaaki kano, partial discharge properties of ester oils having different molecular structures[c], 2012 ieee international symposium on electrical insulation, 2012, pages: 26 - 29.

[3].f. a. nugraha; n. harid; n. al sayari; b. barkat; s. ohtsuka; k. harada; y. okura; t. sonoda. investigation of dc corona discharge properties using uhf method[c], 2015 international conference on electrical engineering and informatics (iceei), 2015, pages: 171 - 176.

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