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含Alq3的PMMA薄膜的Z-扫描研究开题报告

 2020-02-10 10:02  

1. 研究目的与意义(文献综述)

近年来,光通讯、全光学信息处理和光计算机的研究工作突飞猛进 ,对各种空间光调制器、全光学开关提出了实用化要求 ,光学相位共扼 、光学双稳态等非线性光学效应将在这些器件中得到更加广泛的应用。在光学技术中,光学薄膜在光电技术和光电仪器中占据非常重要的地位,光学薄膜会使光在传播过程中的反射、透射及偏振特性发生改变,如偏振分光膜实现了光束调整、再分配;增透膜和增反膜用来提高光学效率;在新兴的光电器件中用来导电、发光的透明ITO导电膜、有机发光显示薄膜等。聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)由于透射率高和易于成膜的特点吸引了人们的广泛关注。 8-羟基喹啉铝(Alq3)是很好的绿光发光小分子材料,它的绿色光纯度、发光效率和稳定性都很好。本文采用客主掺杂体系的聚合物复合薄膜,研究含Alq3成分的PMMA薄膜的非线性折射率。
本次实验采用旋涂法制备含Alq3的PMMA薄膜,旋涂法制备的薄膜厚度在30nm-2000nm之间精确可控,其设备结构简单且易于操作,具备优良的性价比,广泛应用于微电子行业,但由于PMMA材料作为一种光学塑料存在一些问题:耐热性差;易吸水;热膨胀系数高出玻璃十倍;成膜的均匀性不能完全保证,因此本次实验选取不同质量配比的PMMA与Alq3溶于氯仿中,超声震荡使其充分混合后再进行旋涂,选取形貌较好的薄膜进行观察和测量。
测量和观察材料的三阶非线性光学效应的方法主要有简并四波混频、非线性干涉法、近简并三波混频、自衍射、光束畸变等。二十世纪末M.Sheik-Bahae等人提出了一种纵向扫描方法,简称Z-扫描技术。Z-扫描技术由于实验装置结构简单,测量灵敏度高,被广泛应用于材料的三阶非线性折射率测量。它的主要原理是:利用样品在聚焦光束焦点附近沿光轴移动,测量远场光阑处的光强,通过对数据的处理,可以获得材料非线性吸收系数和非线性折射率的值。
为了研究含Alq3成份的PMMA薄膜的非线性折射率,采用旋涂法制备出包含Alq3和聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)的聚合物薄膜,观察薄膜的表面形貌。为了提高测量含Alq3成份的PMMA薄膜的非线性折射率的准确度,搭建Z-扫描系统,通过Z-扫描法测量被测材料的非线性系数。并最终通过Matlab软件进行理论分析。

2. 研究的基本内容与方案

设计的基本内容

主要内容

利用旋涂法制作含alq3成份的pmma薄膜,利用z-扫描法测量其非线性折射率,并依据相关非线性光学原理利用matlab编程进行理论分析,以期研究alq3的新性能,以期制作有新功能的光学元器件。

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3. 研究计划与安排

第1~3周 接受并熟悉任务,开展调查研究,撰写开题报告。

第4~11周 利用旋凃法制作含alq3成份的pmma薄膜,对其非线性光学效应进行实验和理论分析研究。

同时 进行外文文献的翻译。

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4. 参考文献(12篇以上)

[1]范希智.物理光学[m].北京:清华大学出版社,2016.

[2]谢敬辉,赵达尊,阎吉祥.物理光学教程[m].北京:北京理工大学出版社,2015.

[3]shixiong qian and rongyi zhu nonlinear optics[m].shanghai:fudanuniversitypress ,2005.

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