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Nd掺杂BIT薄膜的制备及铁电性能的研究任务书

 2020-05-26 08:05  

1. 毕业设计(论文)的内容和要求

bi4ti3o12(bit)是典型的铋层状钙钛矿结构铁电材料,其晶体结构可描述为:两端分别是[bi2o2]2 层,中间为类钙钛矿[bi2ti3o10]2#8211;层。晶格常数a、b和c分别为0.5450,0.5405和3.2832nm。bit具有较高剩余极化强度pr、介电常数和居里温度(675℃)、良好的抗疲劳特性以及不含铅等优点,使其成

为si 基铁电器件的热点候选材料之一,日益引起人们的广泛关注。该材料具有两个自发极化方向,在a轴方向的2pr 约为10#8211;4 c/cm2;c 轴方向的2pr 约为0.08#215;10#8211;4 c/cm2。由于bit 易c 轴取向,因此bit 的2pr 也非常小(0.08#215;10#8211;4 ~ 0.16#215;10#8211;4 c/cm2)。研究表明:用高价离子取代类钙钛矿层中b 位ti4 ,即b位掺杂,是改善材料铁电性能的有效方法之一。

钕是最活泼的稀土金属之一,在空气中能迅速变暗,生成氧化物;在冷水中缓慢反应,在热水中反应迅速,能与水和酸作用放出氢。具有顺磁性。研究表明nd掺杂不会影响bi4ti3o12(bit)的晶体结构,但是会对bit薄膜材料的结构、光学性能以及铁电和介电性能产生较大的影响。本毕业论文要求学生进行掺钕bit薄膜的制备,通过各种手段研究了掺杂薄膜的铁电性能,研究掺杂量与性能之间的关系。

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2. 参考文献

[1] 苗凤娟,陶百瑞, paul k. chu. synthesis, microstructure, and electronic band structure properties of nanocrystalline neodymium-doped bismuth titanate ferroelectric films fabricated by the sol#8211;gel method [j]. materials research bulletin,2015,61:238-244.

[2]谭丛兵,钟向丽nd掺杂对bi4ti3o12铁电薄膜的微结构和铁电性能的影响[j].物理学报,2007,56:6084-6089.

[3] noguchi y, miwa l, goshima y, et al. defect control for large remanent polarization in bismuth titanate ferroelectrics [j]. jpn j appl phys, 2000, 39: 1259-1262.

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3. 毕业设计(论文)进程安排

1)15.12.22#8212;15.12.26 课题选题、课题任务书

2)15.12.27#8212;16.1.15 文献综述、英文翻译与开题报告

3)16.2.23#8212;16.3.14 实验材料准备(学生毕业实习)

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