无铅焊点内扩散阻挡层的界面反应行为研究任务书
2020-04-25 08:04
1. 毕业设计(论文)主要内容:
在电子器件内,凸点下金属化层(under bump metallisation)能有效抑制无铅焊点与铜基板的界面扩散反应速率。目前,ni-p镀层在工程界广泛使用,但其易晶化并形成脆性的ni3p晶化层,导致焊点失效,亟需新的扩散阻挡层。本课题通过表面沉积技术制备不同的扩散阻挡层,并研究其与无铅焊料的界面反应行为。设计(论文)主要内容:
1. 文献调研,了解国内外相关研究概括和发展趋势;
2. 通过表面沉积技术在铜基板上沉积不同的镍基镀层;
2. 毕业设计(论文)主要任务及要求
1.查阅不少于15篇的参考文献(其中近5年英文文献不少于3篇),完成开题报告;
2.掌握镍基镀层的制备以及无铅焊点的形成;
3.观测回流和时效处理下焊接界面的扩散和演变过程;
3. 毕业设计(论文)完成任务的计划与安排
1-3周:查阅相关文献资料,完成英文翻译。明确研究内容,了解研究对象结构、测试仪器和设备。确定技术方案,并完成开题报告;
第4-6周:按照技术方案,制备镍基镀层并形成无铅焊点接头;
第7-10周:观测回流和时效处理下焊接界面的扩散和演变过程。
4. 主要参考文献
[1] jang m d. intermetallic compound spalling characteristics of sn-3.5ag solder over ternary electroless ni under-bump metallurgy [j]. journal of materials research, 2011, (24): 3032-3037.、
[2] bang j, yu dy, ko yh, kim ms, nishikawa h, lee cw, intermetallic compound formation and mechanical property of sn-cu-xcr/cu lead-free solder joint [j]. journal of alloys and compounds, 2017 (728): 992-1001.
[3] xu t, hu xw, li yl, jiang xx, the growth behavior of interfacial intermetallic compound between sn-3.5ag-0.5cu solder and cu substrate under different thermal-aged conditions [j]. journal of materials science: materials in electronics, 2017 (28): 18515-18528.
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